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美國(guó) IK-TECHNOLOGIES 多探針?lè)治鱿到y(tǒng)：UHV 除了表面分析組件外，LK Technologies還專門設(shè)計(jì)和構(gòu)建完整的特高壓系統(tǒng)，這些系統(tǒng)通常結(jié)合了LK組件和其他制造商的多種表面分析方法。
美國(guó) IK-TECHNOLOGIES 熱解吸光譜儀TDS1000 我們的TDS1000是一個(gè)集成的系統(tǒng)工具，使用戶能夠以高靈敏度和定量校準(zhǔn)獲得TPD光譜。
美國(guó) IK-TECHNOLOGIES 電子槍 LK1000M 具有出色能量分辨率的電子源，針對(duì)高輸出電流進(jìn)行了優(yōu)化應(yīng)用于逆UPS，EELS等電子碰撞實(shí)驗(yàn)。
美國(guó) IK-TECHNOLOGIES 電子能譜儀MINICMA™ 對(duì)固體表面進(jìn)行微區(qū)成份分析及元素分布?？蓱?yīng)用于半導(dǎo)體材料、冶金、地質(zhì)等部門。
美國(guó) IK-TECHNOLOGIES 俄歇能譜儀 ELS3000 俄歇電子能譜（Auger electron spectroscopy，簡(jiǎn)稱AES），是一種利用高能電子束為激發(fā)源的表面科學(xué)和材料科學(xué)的分析技術(shù)。
LK-TECHNOLOGIES 低能電子衍射儀(LEED)-RVL2000 的精密反向LEED低能電子衍射儀光學(xué)元件采用所有UHV結(jié)構(gòu)，無(wú)需使用玻璃纖維或聚合物涂層線束。提供完整系列的型號(hào)和選件，包括低電流（nA，pA）MCP型號(hào)。
美國(guó) IK-TECHNOLOGIES 高分辨電子能量損失譜儀在分辨率和信號(hào)水平方面表的
美國(guó)QUEST(QI2)乙烯爐管檢測(cè)LOTIS® QC-80，非接觸式測(cè)量系統(tǒng) 使用*非接觸式激光光學(xué)三角測(cè)量，可為管狀結(jié)構(gòu)提供快速掃描和高分辨率數(shù)據(jù)。在一次掃描中，我們的專有軟件自動(dòng)準(zhǔn)確地定位尺寸質(zhì)量以及表面缺陷。
